Основы визуальной аналитики Дисциплина[Б1.ДВ.2.2.10; Б1.ДВ.2.3.10]
573 Отделение ядерной физики и технологий офиса образовательных программ (М)
Структура:
Семестр
Всего (ч) (Лекц / Практ. / Лаб.)
Аттестация
1
72 (0 / 32 / 0)
Зачет
Итого
72 (0 / 32 / 0)
Зачет
Компетенции:
УКЦ-2 - Способен к самообучению, самоактуализации и саморазвитию с использованием различных цифровых технологий в условиях их непрерывного совершенствования
ПК-1 - способен использовать методы моделирования и оптимизации, стандартизации и сертификации для оценки и прогнозирования свойств материалов и эффективности технологических процессов