081 Кафедра физики микро- и наносистем
Описание:
В курсе изучаются основные физические принципы построения и функционирования сенсорных элементов и систем, способных к глубокой обработке полученных сигналов в виде электромагнитного излучения ультрафиолетового, видимого и инфракрасного диапазонов, к учету нелинейностей и влияний окружения, к рациональному изменению режимов работы в зависимости от обстоятельств. Описаны функциональные схемы простых и сложных сенсоров, приведена их классификация и параметры эффективности. Рассмотрены различные виды оптических сенсоров, объясняются физические принципы их действия. Приведены многочисленные примеры их применения. Изложены подходы к проектированию сенсоров, раскрыты принципы построения и важнейшие технические характеристики их основных конструктивных узлов, комплектующих, программного построения, описаны способы селекции полезных сигналов. Очерчены направления дальнейшего развития сенсорных систем на основе автономности и распределенности.
Структура:
Семестр |
Всего (ч) (Лекц / Практ. / Лаб.) |
Аттестация |
2 |
108 (15 / 30 / 0) |
Зачет с оценкой |
Итого |
108 (15 / 30 / 0) |
Зачет с оценкой |
Компетенции:
- ПК-3 - способен разрабатывать функциональные и структурные схемы приборов и систем лазерной техники с определением их физических принципов действия, структурно-логических связей и установлением технических требований на отдельные блоки и элементы
- ПК-8 - способен руководить монтажом, наладкой (юстировкой), испытаниями и сдачей в эксплуатацию опытных образцов лазерных приборов, систем и комплексов
- ПК-4.3 - способен ставить экспериментальные задачи и проводить экспериментальные исследования в области лазерных технологий фотоники; применять современные средства измерений, средства управления экспериментом, сбора и обработки данных
- ПК-4.4 - способен ставить задачи по проектированию лазеров и оптических систем для инновационных применений в технологии, диагностике и научных исследованиях; использовать инновационные лазерные разработки в технологии, диагностике сред и для оптических измерений