081 Кафедра физики микро- и наносистем
Описание:
Учебная задача курса «Методы прикладной статистики в электронике» - дать основные представления о методах и математическом аппарате прикладного статистического анализа применительно к различным научно-техническим приложениям.
В курсе «Методы прикладной статистики в электронике» закрепляются основные положения теории вероятностей и теории случайных процессов, необходимые для усвоения основного содержания дисциплины; изучаются основные положения математической статистики: статистические выборки, оценка параметров распределения, проверка статистических гипотез, статистические связи, включая корреляционный, регрессионный, дисперсионный анализ.
Структура:
| Семестр |
Всего (ч) (Лекц / Практ. / Лаб.) |
Аттестация |
| 2 |
108 (15 / 15 / 0) |
Экзамен |
| Итого |
108 (15 / 15 / 0) |
Экзамен |
Компетенции:
- ПК-6 - способен использовать основные законы естественнонаучных дисциплин в профессиональной деятельности, применять методы математического и компьютерного моделирования в теоретических и расчетно-экспериментальных исследованиях
- ПК-2.1 - Способен применять методы, концепции, модели экспериментальной физики конденсированного состояния вещества, физики микро- и наносистем, фотоники для создания и эксплуатации элементов и устройств, функционирующих на принципах опто- и наноэлектроники, нанофотоники