Измерения в микро- и наноэлектронике Дисциплина [Б1-ПМ.В.2]
067 Кафедра физики конденсированных сред
Структура:
Семестр Всего (ч) (Лекц / Практ. / Лаб.) Аттестация
7 108 (24 / 24 / 0) Экзамен
Итого 108 (24 / 24 / 0) Экзамен
Компетенции:
  • ПК-2 - Способен к экспериментальной проверке выбранных технологических решений производства приборов и исследованию параметров наноструктурных материалов в соответствии с утвержденной методикой, к разработке методик и техническому руководству экспериментальной проверкой технологических процессов и исследованием параметров наноструктурированных материалов
  • ПК-3 - Способен анализировать и систематизировать результаты исследований, определять степень достоверности результатов экспериментальных исследований, сопоставлять полученные результаты с мировым уровнем, представлять материалы в виде научных отчетов, публикаций, презентаций, баз данных
  • ПК-9 - Способен выполнять определенный тип измерительных или контрольных операций при исследовании параметров полупроводниковых приборов и устройств или в технологическом процессе по производству материалов и изделий электронной техники
  • ПК-13 - Способен к регламентной проверке, текущему сервисному обслуживанию и мелкому ремонту измерительного, диагностического или технологического оборудования
  • ПК-7.3 - Способен применять и владеет основами метрологического контроля проектной, конструкторской и технологической документации, устройств и технологий в сфере наноиндустрии и наноэлектроники
Задачи воспитания:
  • В19 - формирование научного мировоззрения, культуры поиска нестандартных научно-технических/практических решений, критического отношения к исследованиям лженаучного толка
  • В35 - формирование ответственности и аккуратности в работе с опасными веществами и при требованиях к нормам высокого класса чистоты