Основы метрологии и погрешности измерений (Basic Metrology and Measurment Errors) Дисциплина[Б1.ДВ.1.5.2]
024 Кафедра прикладной ядерной физики
Структура:
Семестр
Всего (ч) (Лекц / Практ. / Лаб.)
Аттестация
1
72 (16 / 32 / 0)
Зачет
Итого
72 (16 / 32 / 0)
Зачет
Компетенции:
УКЦ-1 - Способен решать исследовательские, научно-технические и производственные задачи в условиях неопределенности, в том числе выстраивать деловую коммуникацию и организовывать работу команды с использованием цифровых ресурсов и технологий в цифровой среде
УКЦ-2 - Способен к самообучению, самоактуализации и саморазвитию с использованием различных цифровых технологий в условиях их непрерывного совершенствования
ПК-1 - Способен проводить патентные исследования и определять характеристики продукции (услуг)
ПК-2 - Способен обрабатывать и анализировать научно-техническую информацию и результаты исследований
ПК-1.1 - Способен обеспечивать и контролировать качество работ по конструированию мехатронных модулей киберфизических систем