Производственная практика (НИР) Практика [Производственная]
037 Кафедра лазерной физики
Структура:
Семестр Всего (ч) (Лекц / Практ. / Лаб.) Аттестация
6 108 (0 / 0 / 0) Экзамен
Итого 108 (0 / 0 / 0) Экзамен
Компетенции:
  • УК-1 - Способен осуществлять поиск, критический анализ и синтез информации, применять системный подход для решения поставленных задач
  • УК-6 - Способен управлять своим временем, выстраивать и реализовывать траекторию саморазвития на основе принципов образования в течение всей жизни
  • ПК-1 - Способен к математическому моделированию процессов и объектов лазерной техники и технологий на базе стандартных пакетов автоматизированного проектирования и самостоятельно разработанных программных продуктов
  • ПК-2 - Способен к проведению измерений и исследования различных объектов по заданной методике
  • ПК-3 - Способен к наладке, настройке, юстировке и опытной проверке приборов и систем
  • ПК-4 - Способен к анализу, расчету, проектированию и конструированию в соответствии с техническим заданием типовых систем, приборов, деталей и узлов на схемотехническом и элементном уровнях
  • ПК-2.1 - Способен применять основы физической оптики, теории интерференции, дифракции, временной и пространственной когерентности, использовать знания о закономерностях распространения световых пучков в вакууме и сплошных средах, об оптических свойствах сплошных сред, о спектральном составе и пространственных конфигурациях поля в оптических резонаторах;
  • ПК-2.2 - Способен к применению основ теории колебаний (линейных, нелинейных, параметрически возбуждаемых и многомерных колебаний), использованию знаний о принципах действия и типах механических, электрических и оптических генераторов
  • ПК-2.3 - Способен к использованию знаний о методах создания инверсной населенности в средах, полуклассическом описании лазера, характеристиках лазеров при стационарной генерации и динамике лазеров,типах лазеров, их современных разработках и основных применениях лазеров;
  • ПК-2.4 - Способен к использованию аппаратуры для спектрального анализа излучения, к работе с приемниками оптического излучения, современными измерительными приборами и системами;